簡要概述:
LT-2型單晶少子壽命測試儀是參考美國 A.S.T.M 標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數載流子壽命。半導體材料的少數載流子壽命測量,是半導體的常規測試項目之一。本儀器靈敏度較高,配備有紅外光源,可測量包括集成電路級硅單晶在內的各種類型硅單晶,以及經熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。
產品優點:
本儀器根據國際通用方法高頻光電導衰退法的原理設計,由穩壓電源、高頻源、檢波放大器,特制的InGaAsp/InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機結構緊湊、測量數據可靠。
技術參數:
型號
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LT-2
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測試單晶電阻率范圍
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>2Ω.cm
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可測單晶少子壽命范圍
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5μS~7000μS
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配備光源類型
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波長:1.09μm;余輝<1 μS;
閃光頻率為:20~30次/秒;
閃光頻率為:20~30次/秒;
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高頻振蕩源
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用石英諧振器,振蕩頻率:30MHz
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前置放大器
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放大倍數約25,頻寬2 Hz-1 MHz
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儀器測量重復誤差
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<±20%
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測量方式
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采用對標準曲線讀數方式
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儀器消耗功率
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<25W
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儀器工作條件
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溫度: 10-35℃、 濕度 < 80%、使用電源:AC 220V,50Hz
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可測單晶尺寸
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斷面豎測:φ25mm—150mm; L 2mm—500mm;
縱向臥測:φ25mm—150mm; L 50mm—800mm;
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配用示波器
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頻寬0—20MHz;
電壓靈敏:10mV/cm;
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