LCR數(shù)字電橋操作面板都有“串聯(lián)”和“并聯(lián)”按鍵供用戶選擇，這串聯(lián)和并聯(lián)不是物理連結(jié)，而是內(nèi)在計算模式的改變，以改變計算模式得到理想的測試精度。（具體操作面板，可以參見：TH2810B，TH2817，TH 2816A這些型號）

理論上電感正弦波激勵響應(yīng)電壓超前電流90度，電容電壓落后電流90度。實(shí)際測量中由于銅阻和各種損耗的存在，超前或落后都小于90度，這種損耗在測量中以副參數(shù)出現(xiàn)，電感損失角的正切值的倒數(shù)稱品質(zhì)因素Q值。同樣電容損失角的正切值稱損耗因子DF。

LCR數(shù)字電橋進(jìn)行高精度量化，要建立適當(dāng)?shù)臄?shù)學(xué)模型，經(jīng)過一些數(shù)**算，得到各種參數(shù)值。在整個過程中，把損耗的影響用電阻等效和電感或電容串并聯(lián)。見圖1所

對于電阻根據(jù)實(shí)際應(yīng)用，可以等效為電阻和小電感的串聯(lián)或電阻和小電容的并聯(lián)。   　 每種等效都可以通過數(shù)**算得到主副參數(shù)值，運(yùn)算過程中，如果中間數(shù)據(jù)保持的位數(shù)很多，上述等效運(yùn)算的主副參數(shù)值是一樣的。實(shí)際上計算機(jī)或單片機(jī)受資源的限制，只能在有限位數(shù)下運(yùn)算，一種等效得到一定的計算精度。　大阻抗器件用并聯(lián)模式計算精度高，小阻抗器件用串聯(lián)模式計算精度高，被測件的阻抗決定數(shù)字電橋串并聯(lián)的選擇。　　

Ø 阻抗小于1K用串聯(lián)，1K到幾十K串并聯(lián)都可以，還是建議用串聯(lián)。阻抗大于幾百K或M的量級就用并聯(lián)模式。被測件是大電感（比如現(xiàn)在LCD背光電源變壓器），或小電容用并聯(lián)。　　被測件是小電感或大電容用串聯(lián)。

Ø 特別注意的是阻抗決定串并聯(lián)模式，阻抗和測試頻率有關(guān)，電感是ωL電容是1/ωC，小電感小電容適當(dāng)提高測試頻率可以提高測量精度。實(shí)際運(yùn)用中串聯(lián)模式使用比較多。串聯(lián)并聯(lián)運(yùn)算見下面公式：　




本標(biāo)題頁面：　LCR數(shù)字電橋中串聯(lián)和并聯(lián)的選擇使用